Савкіна Р. К. Ультразвукова інфрачервона термографія вузькощілинного напівпровідника <$E bold {{roman Cd} sub x {roman Hg} sub 1-x roman Te}> (x ~ 0,2) / Р. К. Савкіна, О. Б. Смірнов, С. О. Юр'єв, С. І. Ющук, В. І. Лобойко // Фізика і хімія твердого тіла. - 2010. - 11, № 1. - С. 72-76. - Бібліогр.: 9 назв. - укp.Запропоновано спосіб термічної візуалізації макроскопічних областей протяжних дефектів вузькощілинного напівпровідника <$E {roman Cd} sub x {roman Hg} sub 1-x roman Te> (x ~ 0,2), де як джерело розігріву застосовується високочастотний (МГц) ультразвук, енергія якого поглинається вибірково на дислокаціях і малокутових межах залежно від частоти коливань. Це явище викликає різницю температур між матрицею й областями структурної недосконалості, яка є достатньою для спостереження випромінювальної здатності Es матеріалу та може стати основою неруйнівного методу активної ІЧ термографії напівпровідникових матеріалів. Індекс рубрикатора НБУВ: В379.222 + З843.32
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж26618 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|