Рассмотрена архитектура микросхемы памяти со встроенными средствами многоверсионного самотестирования. Показаны преимущества встроенного самотестирования над внешним автоматизированным тестовым оборудованием, которое является очень дорогим, что увеличивает стоимость микросхем на рынке. Предложена архитектура встроенных средств, обеспечивающих оперативную смену программ самотестирования. Данная архитектура позволяет повысить качество микросхем памяти на этапе изготовления и повысить коэффициент технической готовности микросхем на этапе эксплуатации.

 Наукова періодика України 

---

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

• Рябцев Володимир Григорович (технічні науки)
• Уткіна Тетяна Юріївна (1984–) (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"