Недзьведь А. М. Анализ свойств наноповерхностей по АСМ изображениям / А. М. Недзьведь, С. В. Абламейко, О. В. Недзьведь // Искусств. интеллект. - 2011. - № 3. - С. 246-253. - Библиогр.: 8 назв. - рус.Представлена схема алгоритма анализа наноповерхности по изображениям атомно-силовой микроскопии. В основе анализа лежит коррекция неравномерного контраста и выделение объектов с округлой формой. Данный алгоритм позволил определить не только классические характеристики описания наноповерхности, такие как шероховатость, но и дополнительные характеристики нанообъектов, позволяющие получить как их индивидуальное, так и групповое описание. Індекс рубрикатора НБУВ: З970.632 + Ж364.2-1 с
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж15477 Пошук видання у каталогах НБУВ
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|