Предложен метод определения рекомбинационных параметров из одного измерения в пластинах Si, таких как скорость поверхностной рекомбинации, "эффективное" и "объемное" время жизни носителей заряда. В основе метода лежит инжекция носителей заряда путем импульсного засвечивания локальной области светом из области фундаментального поглощения полупроводника и измерение временной зависимости изменения концентрации неравновесных носителей заряда. Метод тестировался в производственных условиях на технологических пластинах кремния и может использоваться для качественного контроля в процессе изготовления солнечных элементов.

• Чирчик Сергій Васильович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"