РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000373539<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Беляев А. Е. 
Физические методы диагностики в микро- и наноэлектронике : [колект. моногр.] / А. Е. Беляев, Н. С. Болтовец, Е. Ф. Венгер, Е. Г. Волков, В. П. Кладько; ред.: А. Е. Беляев; НАН Украины, Ин-т физики полупроводников им. В. Е. Лашкарева. - Х. : ИСМА, 2011. - 382 c. - рус.

Исследованы физические методы диагностики в микро- и наноэлектронике: методы рентгеновской дифракционной диагностики полупроводниковых материалов и структур, используемых в производстве СБИС и ряда дискретных полупроводниковых приборов, а также полупроводниковых структур с квантовыми точками, квантовыми ямами, сверхрешетками и др. Рассмотрены методы математического моделирования механизмов токопереноса в контактах металл-полупроводник с высокой плотностью дислокаций в приконтактной области полупроводника. Рассмотрено физико-статистическое моделирование отказов в задачах диагностики полупроводниковых приборов.


Індекс рубрикатора НБУВ: В372.13,021 + З852-082.05 с3

Рубрики:

Шифр НБУВ: ВА759637 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського