Отмечено, что в известном вторичном эталоне для поверки штриховых стеклянных мер длины используется абсолютный интерференционный метод, основанный на использовании динамических лазерных интерферометров совместно с фотоэлектрическими микроскопами. Однако, фотоэлектрический микроскоп обладает недостатками, которые приводят к возникновению погрешности при наведении на центр штриха поверяемой меры. Преодолеть подобные недостатки возможно с помощью цифровых камер, выполненных на основе ПЗС-матриц.

Зазначено, що у відомому вторинному еталоні для повірки штрихових скляних мір довжини використовується абсолютний інтерференційний метод. Він грунтується на використанні динамічних лазерних інтерферометрів спільно з фотоелектричними мікроскопами. Проте, фотоелектричний мікроскоп має недоліки, які призводять до виникнення похибки наведення на центр штриха міри, що повіряється. Подолати подібні недоліки можна за допомогою цифрових камер, виконаних на основі ПЗЗ-матриць.

The well-known secondary standard for calibration of glass line scale uses the absolute interference method, which is based on the use of dynamic laser interferometers with photoelectric microscope. However, the photoelectric microscope has some disadvantages that give results errors in the secondary standard. Overcoming these disadvantages is possible with digital CCD cameras.

 Наукова періодика України 

---

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"