Кобец М. В. Влияние процесса миграции радиационно-индуцированного возбуждения в гетерофуллеренах C58Si2 и C68Si2 на их стабильность / М. В. Кобец, П. А. Селищев // Металлофизика и новейшие технологии. - 2012. - 34, № 9. - С. 1221-1230. - Библиогр.: 16 назв. - рус.
Теоретически исследована роль миграции радиационно-индуцированного возбуждения в процессе повреждаемости гетерофуллеренов C58Si2 и C68Si2 в случае одно- и двукратно возбужденных молекул. Получены зависимости вероятности повреждения гетерофуллеренов от энергии возбуждения и конфигураций размещения легирующих атомов. Исследовано изменение вероятности повреждения молекулы в зависимости от условий облучения.
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"