Зазначено, що сучасний стан розвитку світової електронної промисловості характеризується неперервним підвищенням вимог до надійності виробів твердотільної електроніки, мікро-, оптоелектроніки. Пошук оптимальних шляхів забезпечення цих вимог указав на необхідність глибокого розуміння фізики явищ, які призводять до відказів ВІС, і відмов надійності. Фізичний підхід до забезпечення надійності напівпровідникових приладів сформувався ще в 70 - 80-ті рр. На сьогоднішньому етапі це необхідно зробити і для субмікронних структур ВІС, на що вказують наведені матеріали.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"