Разработана теория формирования электронно-микроскопических изображений (ЭМИ) аморфных материалов и наносистем сложного химического состава с учетом как амплитудного, так и дифракционного вклада в контраст. Показано, что за формирование контраста ЭМИ таких объектов отвечают 3 составляющих рассеяния электронов в пределах апертурной диафрагмы объективной линзы: упругое некогерентное, упругое когерентное и неупругий фон. Вариации интенсивности ЭМИ за счет упругого некогерентного рассеяния определяются распределением атомной плотности, изменениями химического состава и отклонениями геометрической толщины локальных участков исследуемого образца. Вклад упругого когерентного рассеяния в контраст изображений обусловливается отличиями структурных факторов разных локальных участков, а вклад неупругого фона - отличиями интенсивности такого фона.

 Наукова періодика України 

---

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

• Бобик Михайло Юрійович (фізико-математичні науки)
• Боркач Євгеній Ілліч (педагогічні науки)
• Боркач Євген Ілліч (фізико-математичні науки)
• Іваницький Валентин Петрович (фізико-математичні науки)
• Іваницький Володимир Павлович (геологічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"