С применением методов рентгеновской дифракции изучена структура аморфных лент сплава Fe80Si6B14 и закономерности структурных изменений в широком температурном интервале: от -190 до <$E+598~symbol Р roman С>. Исследования проведены на дифрактометре XRD; для регистрации рассеянного рентгеновского излучения использован двухкоординатный рентгеновский детектор, источник рентгеновского излучения - синхротрон. Съемка рентгенограмм проведена с шагом по температуре 4 К. Это, а также используемая геометрия рентгеновской съемки (на просвет) и очень малая длина волны используемого излучения (0,1239 Ангстрем), обеспечивали очень высокую интенсивность (статистическая ошибка счета на "хвосте" дифрактограммы - не больше 1 %). Полученные данные позволяют считать, что кристаллические кластеры даже в аморфных лентах вращаются с большими скоростями, хотя эти данные и следует рассматривать лишь как необходимые, но недосточные для однозначного утверждения.

 Наукова періодика України 

---

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

• Зелінська Галина Михайлівна (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"