Наведено результати дослідження за допомогою методів растрової електронної та атомно-силової (АСМ) мікроскопій закономірностей процесів деструкції, дефектоутворення та радіолізу поверхні плівок СsI у процесі опромінення електронами середніх енергій у широкому діапазоні потужностей і доз опромінення. Оцінено потужності та дози опромінення, за яких відбувається поява фазових наноутворень і нано- та мікропор на поверхні CsI, що одержано вперше за допомогою методу АСМ на нанорівні. Встановлено дози електронного опромінення, за яких має місце радіоліз поверхні плівок CsI з "виділенням" нано- та мікрофаз і формування наноутворень на них.

 Наукова періодика України 

---

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

• Галій Павло Васильович (фізико-математичні науки)
• Ненчук Тарас Миколайович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"