Lysenko V. S. Effect of the charge state of traps on the transport current in the SiC/Si heterostructure / V. S. Lysenko, I. P. Tyagulski, Y. V. Gomeniuk, I. N. Osiyuk // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2000. - 3, № 3. - С. 330-337. - Бібліогр.: 8 назв. - англ.Прямі та зворотні струми в гетероструктурі "аморфний SiC/pSi" вивчено в температурному діапазоні 30 - 80 К. З'ясовано, що в різних діапазонах напруги транспортний струм описується різними механізмами. Зарядження електронних пасток, розташованих у шарі SiC, збільшує прямий струм завдяки зменшенню потенціального бар'єра для дірок. У діапазоні прямих напруг 0,5 - 0,8 В струм визначається стрибковим механізмом зі змінною довжиною стрибка (механізм Мотта) в шарі аморфного SiC. За великих зміщень домінуючим механізмом транспортного струму стає тунелювання крізь трикутний бар'єр поблизу межі поділу "аморфний - кристалічний напівпровідник". Індекс рубрикатора НБУВ: В372.314.21 + В379.224
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|