Запропоновано розрахунковий метод, який базується на диференціальному рівнянні типу Рікатті, випробуваний для моделювання малокутових рентгенівських дифрактограм одномірно впорядкованих багатошарових плівок. Знайдено деякі особливості дифракції, пов'язані з асиметричною деформацією профілю багатошарової плівки внаслідок неоднакових процесів на межах шарів.

Предложен расчетный метод, основанный на дифференциальном уравнении типа Риккатти, который был испытан для моделирования малоугловых рентгеновских дифрактограмм одномерно упорядоченных многослойных плёнок. Обнаружены некоторые особенности дифракции, связанные с асимметричной деформацией профиля многослойной пленки вследствие разных процессов на границах слоев.

Calculative method based on the Riccatti type differential equation was tested for simulation of low angle X-ray diffraction patterns from the one-dimensionally ordered multilayer. Some peculiarities of diffraction were revealed connected with asymmetrical distortion of the multilayer profile due to different processes on the layer boundaries.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"