Побудовано математичну модель п'єзоелектричної реєстрації фотоакустичного ефекту в оптично напівпрозорих і термічно товстих твердотільних об'єктах із підповерхневою неоднорідністю для випадку вільного кріплення п'єзодатчика в фотоакустичній комірці фотоакустичного мікроскопу. Модель дозволяє оцінити вплив підповерхневих дефектів на фотоакустичний сигнал, а також врахувати внесок цього фактора у вихідний сигнал досліджуваних об'єктів.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"