Venger Ye. F. Effect of rapid thermal annealing on properties of contacts Au - Mo - TiBx - GaAs / Ye. F. Venger, A. A. Beliaev, N. S. Boltovets, I. B. Ermolovich, V. N. Ivanov, R. V. Konakova, V. V. Milenin, D. I. Voitsikhovski, T. Figielski // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 1999. - 2, № 3. - С. 57-61. - Бібліогр.: 7 назв. - англ.За допомогою аналітичних, структурних та електрофізичних методів вивчено механізм термічної деградації діодних структур із бар'єром Шоткі Au - Mo - TiBx - GaAs. Показано, що в результаті короткочасного термічного відпалу при Т = 600 °C на протязі 60 с у атмосфері водню, в області просторового заряду GaAs, виникає центр типу EL5, який являє собою комплекс VGa + VAs, що підтверджується також даними фотолюмінесценції. Він обумовлює появу на початковій ділянці вольт-амперної характеристики надлишкових струмів витоку. Індекс рубрикатора НБУВ: З852.2-03
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|