Stronski A. V. Fourier Raman spectroscopy studies of the As40S60 - XSeX glasses / A. V. Stronski, M. Vl(ek, P. F. Oleksenko // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2001. - 4, № 3. - С. 210-213. - Бібліогр.: 16 назв. - англ.Досліджено стекла As40S60 - XSeX за допомогою фур'є-спектроскопії комбінаційного розсіювання. Результати вказують на зростання присутності нестехіометричних молекулярних фрагментів Sen, As4S4 для проміжних складів стекол As40S60 - XSeX, що в поєднанні з композиційними залежностями мольного об'єму, результатами раніше виконаних досліджень оптичних і теплових властивостей стекол та плівок As40S60 - XSeX може бути пояснено невеликим відхиленням від статистичного за умов ізовалентного заміщення Se на S у стеклах As40S60 - XSeX зі зміною складу. Індекс рубрикатора НБУВ: Л43-1с + В379.224в734.5
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ
![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|