РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000394808<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Stronski A. V. 
Fourier Raman spectroscopy studies of the As40S60 - XSeX glasses / A. V. Stronski, M. Vl(ek, P. F. Oleksenko // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2001. - 4, № 3. - С. 210-213. - Бібліогр.: 16 назв. - англ.

Досліджено стекла As40S60 - XSeX за допомогою фур'є-спектроскопії комбінаційного розсіювання. Результати вказують на зростання присутності нестехіометричних молекулярних фрагментів Sen, As4S4 для проміжних складів стекол As40S60 - XSeX, що в поєднанні з композиційними залежностями мольного об'єму, результатами раніше виконаних досліджень оптичних і теплових властивостей стекол та плівок As40S60 - XSeX може бути пояснено невеликим відхиленням від статистичного за умов ізовалентного заміщення Se на S у стеклах As40S60 - XSeX зі зміною складу.


Індекс рубрикатора НБУВ: Л43-1с + В379.224в734.5

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ 
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського