Shcherbak L. Structural changes in molten CdTe / L. Shcherbak, P. Feychuk, Yu. Plevachuk, Ch. Dong, V. Sklyarchuk // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2000. - 3, № 4. - С. 456-459. - Бібліогр.: 20 назв. - англ.Вимірювання в'язкості зсуву eta розплавів CdTe та CdTe + 2 at % In виконано за допомогою чашкового віскозиметра в інтервалі температур від кімнатної до 1403 К. Залежності eta(T), отримані в процесах нагрівання та охолодження зі швидкістю 10 - 15 К/год, виявляють гістерезис поблизу точки плавлення. Зроблено висновок, що за температури біля 1376 К відбувається суттєва зміна структури розплаву. Измерения сдвиговой вязкости <$Eeta> расплавов CdTe и CdTe + 2 at % In выполнены с помощью чашечного вискозиметра в интервале температур от комнатной до 1403 К. Зависимости eta(T), полученные в процесах нагревания и охлаждения со скоростью 10 - 15 К/час, обнаруживают гистерезис вблизи точки плавления. Сделан вывод, что при температуре около 1376 К происходит существенное изменение структуры расплава. Shear viscosity eta measurements of CdTe and CdTe + 2 at % In melts were performed using a cup viscometer up to 1403 K. The <$Eeta>(T) dependencies obtained during slow heating and cooling (Vh/c = 10 - 15 K/h) show hysteresys near a melting point. According tothe eta(T) dependencies data drastic changes of the melt structure occurred at 1376 K both during heating and cooling the melt. Індекс рубрикатора НБУВ: К342.820.3-13
Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|