РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»
НОВІ
НАДХОДЖЕННЯ
ПОШУК
РУБРИКАТОР

Бази даних

Реферативна база даних - результати пошуку

Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Наукова періодика України
Тематичний навігатор
Авторитетний файл імен осіб
Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000394902<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Balovsyak S. V. 
Determination of surface parameters of solids by methods of X-ray total external reflection / S. V. Balovsyak, I. M. Fodchuk, P. M. Lytvyn // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2003. - 6, № 1. - С. 41-46. - Бібліогр.: 9 назв. - англ.

За допомогою методів інтегральних і диференціальних кривих повного зовнішнього відбивання рентгенівських променів досліджено серію зразків GaAs і SiO2 зі спеціально підготовленим одно- та двомірним рельєфом поверхні. З урахуванням даних, одержаних за допомогою методу атомно-силової мікроскопії, розв'язано пряму й обернену задачі: розраховано теоретичні криві повного зовнішнього відбивання та відновлено параметри, що характеризують рельєф поверхні зразків.


Індекс рубрикатора НБУВ: В372.5

Рубрики:
 Поверхневі явища у твердих тілах 

Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського