РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000394909<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Tkach V. N. 
Divergent-beam X-ray studies of the structure of a disturbed layer of silicon plates / V. N. Tkach, V. N. Bakul // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2002. - 5, № 1. - С. 36-38. - Бібліогр.: 6 назв. - англ.

На базі сканувального електронного мікроскопа BS-340 створено камеру Косселя для дослідження поверхонь монокристалів у відбитих пучках рентгенівських променів. Досліджено структуру поверхневого шару кремнієвих пластин після хіміко-механічної поліровки. Інтенсивність рефлексів від площини гратки, що перетинають поліровану поверхню пластини, характеризує ступінь досконалості поверхневого шару, має періодичну природу та виявляє тенденцію до загасання вглиб пластини.


Індекс рубрикатора НБУВ: В379.24

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ 
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського