Bacherikov Yu. Yu. Effect of microwave radiation on optical transmission spectra in SiO2/SiC structures / Yu. Yu. Bacherikov, R. V. Konakova, E. Yu. Kolyadina, A. N. Kocherov, O. B. Okhrimenko, A. M. Svetlichnyi // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2002. - 5, № 4. - С. 391-394. - Бібліогр.: 7 назв. - англ.Досліджено вплив НВЧ впливу на спектри поглинання (в області 400 - 800 нм) та радіус кривизни структур SiO2/SiC, одержаних за допомогою методів звичайного термічного окиснювання в парах води за температури 1 373 К і швидкого термічного відпалу (ШТВ) за температури 1 273 К. На підставі аналізу залежностей зміни оптичної густини та радіуса кривизни зразків від сумарного часу НВЧ впливу зроблено висновок про те, що структури, які одержано за допомогою методу ШТВ, є найбільш стійкими до НВЧ впливу. Індекс рубрикатора НБУВ: В379.24 + В379.227
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|