Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000394931<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
Maslov V. P. Ellipsometric control of quality of polished MgF2 optical ceramics / V. P. Maslov, A. Z. Sarsembaeva, F. F. Sizov // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2004. - 7, № 2. - С. 199-201. - Бібліогр.: 9 назв. - англ.На базі еліпсометричних досліджень оптимізовано технологію механічної обробки полірованих деталей з оптичної кераміки на основі MgF2. Еліпсометрія - високоефективний безконтактний метод контролю якості оптичних поверхонь, в якому використовується чітка залежність поляризації світла від властивостей і параметрів поверхні та поверхневих ділянок досліджуваної відбивної системи. Показано, що високопродуктивна технологія алмазної поліровки забезпечує досягнення еліпсометричних параметрів на рівні традиційних методів полірування. Індекс рубрикатора НБУВ: Л428-7с
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
|