РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000394931<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Maslov V. P. 
Ellipsometric control of quality of polished MgF2 optical ceramics / V. P. Maslov, A. Z. Sarsembaeva, F. F. Sizov // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2004. - 7, № 2. - С. 199-201. - Бібліогр.: 9 назв. - англ.

На базі еліпсометричних досліджень оптимізовано технологію механічної обробки полірованих деталей з оптичної кераміки на основі MgF2. Еліпсометрія - високоефективний безконтактний метод контролю якості оптичних поверхонь, в якому використовується чітка залежність поляризації світла від властивостей і параметрів поверхні та поверхневих ділянок досліджуваної відбивної системи. Показано, що високопродуктивна технологія алмазної поліровки забезпечує досягнення еліпсометричних параметрів на рівні традиційних методів полірування.


Індекс рубрикатора НБУВ: Л428-7с

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського