The surface morphology and chemical composition of Ag/ZnS/glassceramic thin-film system obtained by close-spaced vacuum sublimation technique under different grow conditions were investigated. Examination of surface profile and morphology was performed by scanning electron and optical microscopy. Chemical composition was studied by Rutherford back scattering method. Results of morphology studies enabled to determine dependence of the growth mechanism, roughness <$E R sub a>, grain size D of ZnS layers on the growth conditions. The researches of chemical composition allowed to determine the concentration of compound elements and impurities, deviation from stoichiometry and thickness distribution of chemical elements.

Індекс рубрикатора НБУВ: В379.22 + Л428.8

Рубрики:

Структура напівпровідників

Кристалокераміка

Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ 

---

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

• Опанасюк Анатолій Сергійович (фізико-математичні науки)
• Денисенко Вероніка Вячеславівна (педагогічні науки)
• Денисенко Володимир Іванович (фізико-математичні науки)
• Денисенко Валерій Дмитрович (хімічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"