Comparative analysis of the X-ray dosimetric characteristics of CdGa2S4 and <$E roman {CdGa sub 2 S sub 4 symbol ... Cu symbol ъ}> single crystals demonstrates that after copper-doping the persistence of the crystal characteristics completely disappears. The current-dose characteristics <$E I sub r> ~ <$E E sup alpha> tend to linearity (<$E alpha~=~1>) at low dose rates of X-rays. At high dose rates, <$E alpha> tends to 0,5, which testifies to the mechanism of quadratic recombination of charge carriers generated by X-rays in <$E roman {CdGa sub 2 S sub 4 symbol ... Cu symbol ъ}>.

 Наукова періодика України 

---

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"