Абдуллаєв О. Р. Аналіз методів контролю та оцінки радіаційної стійкості на прикладі модельних (Zn-O)-GaP світлодіодів / О. Р. Абдуллаєв, І. В. Рижиков, Н. М. Руденко, Ю. Ф. Адаменко // Вісн. Нац. техн. ун-ту України "КПІ". Сер. Радіотехніка. Радіоапаратобудування. - 2014. - Вип. 56. - С. 112-120. - Бібліогр.: 5 назв. - укp.Досліджено вплив нейтронного опромінення з енергією понад 0,1 і 2,65 МеВ на силу світла (Zn-O)-світлодів з червоним кольором світіння. Показано, що випромінювальна компонента струму, пов'язана з інжекцією електронів в оптично активну р-область з лінійним розподілом активаторів люмінесценції, за заданої напруги була лінійною функцією безвипромінювального часу життя і, отже, флюенса нейтронного опромінення. На підставі вивчення вольтамперних характеристик запропонована модель, згідно з якою безвипромінювальна рекомбінація переважає в високоомному компенсованому шарі, що розділяє р-і-n-області, в якій має місце режим високого рівня інжекції. Зроблено висновок, що константа пошкоджуваності світлодіодів пропорційна імпульсу нейтронів. Індекс рубрикатора НБУВ: З852.27
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж29126:Рад.тех. Пошук видання у каталогах НБУВ Повний текст Наукова періодика України Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|