Для количественной оценки надежности и функциональной безопасности критических систем одной из ключевых характеристик является прогноз вероятности скрытых дефектов. Приведен метод прогнозирования вероятности скрытых дефектов критического программного обеспечения (ПО) с заданной (управляемой) точностью результатов. Для рамочной оценки скрытых дефектов предложена модель остаточных и скрытых дефектов. Приведена процедура экспериментальной калибровки чувствительности к дефектам и степени разнообразия методов контроля бездефектности исходных кодов ПО.

 Наукова періодика України 

---

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

• Харченко Вячеслав Сергійович (технічні науки)
• Харченко Валентина Сергіївна (технічні науки)
• Харченко Віталіна Сергіївна (біологічні науки)
• Жолткевич Григорій Миколайович (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"