Рассмотрены искажения РЭМ-изображений, обусловленные несовершенством процесса сканирования электронным зондом поверхности микрообъектов. Предложены теоретические основы двух методов учета подобных искажений.
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити
"Анкету науковця"