РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»
НОВІНАДХОДЖЕННЯ |
ПОШУК
|
РУБРИКАТОР
|
Бази даних
Реферативна база даних - результати пошуку
Книжкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані виданняАвтореферати дисертаційРеферативна база данихНаукова періодика УкраїниТематичний навігаторАвторитетний файл імен осіб|
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000476925<.>) | |||
|
Загальна кількість знайдених документів : 1 |
|||
Паустовский А. В. Атомная силовая микроскопия резистивных толстых пленок на основе боридов / А. В. Паустовский, Б. М. Рудь, В. Е. Шелудько, Е. Я. Тельников, В. В. Цукрук, И. А. Лузинов // Доп. НАН України. - 2003. - № 3. - С. 85-91. - Библиогр.: 14 назв. - рус. The influence of laser radiation on the morphology of the surface, of thick film resistors is investigated. Through the use of atomic force microscopy, the surface areas with conducting phase and glassy-binder are defined. The thicknesses of dielectrical interlayers between conducting phase areas are estimated. Індекс рубрикатора НБУВ: В372.6в734.1 Шифр НБУВ: Ж22412/а Пошук видання у каталогах НБУВ  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця" | |||
| Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |
 |
| Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів |
 |
| Інститут проблем реєстрації інформації НАН України |
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського