The substructure parameters in tension- and rolling-deformed nickel, Al, and Al-alloy are determined by X-ray diffraction peak profile analysis. It is shown by theoretical calculations that the Fourier coefficients of profiles can be obtained from the experimental curve but not from the <$E alpha sub 1>-curve profile. The non-monotone change of the substructure parameters during the deformation process and a drastic decrease of microstresses in blasted tension-deformed specimens are described. These X-ray data are compared with the TEM information.

 Наукова періодика України 

---

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

• Турчак Тетяна Вікторівна (фізико-математичні науки)
• Тарасенко Лідія Валентинівна (юридичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"