Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000480426<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
Козирев Ю. М. Дослідження систем нанокластерів Si та Ge на поверхні SiOx/Si, одержаних методом молекулярно-променевої епітаксії / Ю. М. Козирев, М. Т. Картель, М. Ю. Рубежанська, В. К. Скляр, Н. В. Дмитрук, К. Тайхерт, К. Хофер // Доп. НАН України. - 2010. - № 1. - С. 71-76. - Бібліогр.: 11 назв. - укp.Системи самоорганізованих нанокластерів Si та Ge одержано за допомогою методу молекулярно-променевої епітаксії на первісно аморфному оксидованому шарі SiOx (<$E x~symbol Г~2>). На відміну від нанокластерів Si, які виявляють ознаки монокристалічності: бокові фасети {113} з характерними кутами нахилу приблизно <$E 25 symbol Р> і верхніми терасами (100), нанокластери Ge набувають форми папівсфер із низьким співвідношенням латерального розміру нанокластера до висоти <$E beta>. Запропоновано механізм формування таких систем. Індекс рубрикатора НБУВ: В372.8 + В379.225
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж22412/а Пошук видання у каталогах НБУВ Повний текст Наукова періодика України Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
|