Ніколюк П. К. Дегібридизація в сполуках RAl2Si2 / П. К. Ніколюк, А. В. Ющенко, В. А. Стасенко, В. Я. Ніколайчук // Доп. НАН України. - 2014. - № 5. - С. 83-86. - Бібліогр.: 8 назв. - укp.Теоретично розглянуто явище дегібридизації для інтерметалічних ізоструктурних сполук ряду RAl2Si2 (R - Sm, Eu, Gd, Tb, Er, Yb). Показано фізичну природу виникнення <$E delta>-подібного піка, величина якого є пропорційною кількості вузлів (N), утворених структурними елементами R - Si. У порівнянні з одиничною домішкою величина <$E delta>-подібного піка зростає в N разів. Це зумовлено тим, що орбіталі R - Si відіграють роль електронних дефектів, періодично розташованих у межах всієї кристалічної решітки. Проведені експериментальні та теоретичні дослідження показали високу ступінь кореляції та самоузгодженості, що надає змогу розглядати атомні зв'язки R - Si як своєрідні електронні дефекти, сильно збурюючи електронну систему сполук ряду RAl2Si2. Таке збурення проявляється у виникненні інтенсивних резонансних піків електронних станів, які формуються у валентній зоні досліджуваних інтерметалідів у результаті дії дегібридизаційного фактора. Індекс рубрикатора НБУВ: Г512.3 + В379.2
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж22412/а Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|