Розвинуто теоретичні й експериментальні методи прецизійного визначення періодів граток та їх змін при деформації кристалу і зміні його температури. Встановлено механізми та закономірності формування багатохвильових профілів інтенсивності Х-променів на топограмах, косселеграмах, дифрактограмах азимутального сканування та дифракційних картинах Кікучі. Запропоновано нові алгоритми, програмне забезпечення. На основі кінематичної теорії розсіяння Х-хвиль розроблено метод та відповідні алгоритм і програмне забезпечення для розрахунку та графічного представлення багатохвильових дифрактограм азимутального сканування кристала в схемі Реннінгера в кристалах різного ступеня досконалості. На прикладах випадкової та компланарної багатохвильових дифракцій продемонстровано відповідність між теоретичними й експериментальними результатами. Чутливість кутових положень максимумів багатохвильової дифракції до зміни періоду гратки або довжини хвилі зростає по мірі наближення до умови компланарності багатохвильової дифракції. Ця методика вперше була вдосконалена для застосування в багатошарових системах, для яких характерна наявність градієнта періода гратки по товщині. Запропоновано нові підходи до визначення планарного розподілу локальних деформацій у кристалах з картин дифракції зворотно відбитих електронів (картин Кікучі) з використанням методу гістограм і методу дискретного двомірного Фур’є перетворення. Встановлено взаємозв'язок між змінами тонкої структури двохвильових ліній і багатохвильових областей на картинах Кікучі з особливостями будови кристалів різного походження.

• Борча Мар'яна Драгошівна (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"