Представлена новая методика исследования атомарной структуры поверхности на основе методов сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) и сканирующей туннельной спектроскопии (СТС) с алмазным зондом. В основу методики положена идея сравнения СТМ-изображения изучаемого участка поверхности и его СТС-изображения, полученного при малых туннельных напряжениях. Представленная методика может использоваться при нанотехнологических операциях атомарной сборки логических элементов квантовых компьютеров, элементов наноэлектроники, при создании и изучении однофотонных источников и др.

 Наукова періодика України 

---

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

• Грушко Валентин Валерійович (біологічні науки)
• Грушко Віктор Сергійович (1966–) (економічні науки)
• Грушко Віктор Іванович (економічні науки)
• Грушко Володимир Ігорович (фізико-математичні науки)
• Новіков Микола Іванович (військові науки)
• Чайка Андрій Володимирович (медичні науки)
• Чайка Анна Олександрівна (медичні науки)
• Чайка Алла Анатолiївна (технічні науки)
• Чайка Анна Володимирівна (медичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"