Изложены элементы кристаллографии, которая является азбукой для понимания всего материаловедения вообще и физического материаловедения в частности. Представлены основы физики рентгеновских лучей, необходимые для дальнейшего изучения специальных вопросов рентгеноструктурного анализа. Рассмотрены элементы теории рассеяния рентгеновских лучей на кристаллах. Сформулированы условия формирования дифракционных максимумов и распределение интенсивности в пространстве в зависимости от целого ряда факторов - множителей интенсивности. Приведены различные методики структурного анализа, направленные на решение ряда прикладных задач, с которыми материаловеды встречаются сравнительно часто.

• Малихін Сергій Володимирович (1956–) (фізико-математичні науки)
• Решетняк Максим Вячеславович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"