Бобик М. Ю. Кількісні параметри стохастично нанонеоднорідної структури аморфних плівок системи Ge - Se / М. Ю. Бобик, В. П. Іваницький, В. С. Ковтуненко, В. І. Сабов // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології : зб. наук. пр. - 2013. - 11, вип. 1. - С. 73-88. - Бібліогр.: 20 назв. - укp.Сочетанием методов электронной и атомно-силовой микроскопии определены количественные параметры наноструктуры аморфных пленок системы Ge - Se: размеры неоднородностей, высота выступов и глубина впадин рельефа поверхности, диаметры зерен или столбиков, размеры каналов между столбиками, размеры нанопор, степень нанопористости. Установлено, что нанонеоднородности реализуются благодаря наличию рельефа поверхности исследуемых образцов и их нанопористости. Індекс рубрикатора НБУВ: К297.026
Шифр НБУВ: Ж72631 Пошук видання у каталогах НБУВ Повний текст Наукова періодика України Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|