Наведено експериментальні результати щодо зміни симетрії в одновісно-деформованих вздовж головних кристалографічних напрямків вироджених кристалах p-Si. Показано, що за умов зміни симетрії ефективні маси дірок також істотно змінюються особливо в області слабких одновісних деформацій, які відповідають за п'єзоефект в напівпровідниках, об'ємних кристалах, ниткоподібних напівпровідниках та у нанопровідниках.

Індекс рубрикатора НБУВ: З323-5

Рубрики:

Вимірювання тиску і розрідження

Шифр НБУВ: Ж24835 Пошук видання у каталогах НБУВ 

---

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

• Єрмаков Віктор Миколайович (технічні науки)
• Єрмаков Володимир Миколайович (1952–) (фізико-математичні науки)
• Єрмаков Валерій Миколайович (фізико-математичні науки)
• Ящинський Леонід Васильович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"