РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»
НОВІНАДХОДЖЕННЯ |
ПОШУК
|
РУБРИКАТОР
|
Бази даних
Реферативна база даних - результати пошуку
Книжкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані виданняАвтореферати дисертаційРеферативна база данихНаукова періодика УкраїниТематичний навігаторАвторитетний файл імен осіб|
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000509131<.>) | |||
|
Загальна кількість знайдених документів : 1 |
|||
Sachenko A. V. On a feature of temperature dependence of contact resistivity for ohmic contacts to <$E bold n>-Si with an <$E bold {n sup + -n}> doping step / A. V. Sachenko, A. E. Belyaev, N. S. Boltovets, A. O. Vinogradov, V. A. Pilipenko, T. V. Petlitskaya, V. M. Anischik, R. V. Konakova, T. V. Korostinskaya, V. P. Kostylyov, Ya. Ya. Kudryk, V. G. Lyapin // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2014. - 17, № 1. - С. 1-6. - Бібліогр.: 15 назв. - англ. We present both theoretical and experimental temperature dependences of contact resistivity <$E rho sub c (T)> for ohmic contacts to the silicon <$E n sup + -n>-structures whose <$E n sup +>-layer was formed using phosphorus diffusion or ion implantation. The <$E rho sub c (T)> dependence was measured in the 125 - 375 K temperature range with the transmission line method, with allowance made for conduction in both the <$E n sup +>-layer and <$E n sup + -n> doping step. Індекс рубрикатора НБУВ: В379.15 Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ  Повний текст Наукова періодика України Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
 Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця" | |||
| Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |
 |
| Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів |
 |
| Інститут проблем реєстрації інформації НАН України |
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського