![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Книжкові видання та компакт-диски ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Журнали та продовжувані видання ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Автореферати дисертацій ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Реферативна база даних ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Наукова періодика України ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Тематичний навігатор ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Авторитетний файл імен осіб
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000517801<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
Kasimov F. D. Dependence of the polycristalline silicon film texture on technological conditions of the film formation / F. D. Kasimov, N. G. Dzhavadov, F. F. Kasimova, N. M. Muradov // Functional Materials. - 2000. - 7, № 1. - С. 114-117. - Бібліогр.: 8 назв. - англ.За допомогою рентгенівської дифрактометрії та растрової електронної мікроскопії досліджено текстури плівок полікристалічного кремнію в залежності від технологічних режимів їх формування. Текстура та морфологія полікремнієвих плівок визначаються температурою та тривалістю нанесення затравочних шарів, на яких вони вирощуються. Індекс рубрикатора НБУВ: В379.221
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ
![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
|