РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000517801<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Kasimov F. D. 
Dependence of the polycristalline silicon film texture on technological conditions of the film formation / F. D. Kasimov, N. G. Dzhavadov, F. F. Kasimova, N. M. Muradov // Functional Materials. - 2000. - 7, № 1. - С. 114-117. - Бібліогр.: 8 назв. - англ.

За допомогою рентгенівської дифрактометрії та растрової електронної мікроскопії досліджено текстури плівок полікристалічного кремнію в залежності від технологічних режимів їх формування. Текстура та морфологія полікремнієвих плівок визначаються температурою та тривалістю нанесення затравочних шарів, на яких вони вирощуються.


Індекс рубрикатора НБУВ: В379.221

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ 
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського