Davydov L. N. Numerical simulation of CdZnTe semiconductor resistivity as a function of the impurity composition / L. N. Davydov, O. A. Datsenko, G. P. Kovtun, A. I. Kondrik, V. E. Kutny, A. V. Rybka // Functional Materials. - 2001. - 8, № 2. - С. 255-261. - Бібліогр.: 6 назв. - англ.Для прогнозування електрофізичних властивостей CdZnTe залежно від складу в ньому домішок і дефектів використано багаторівневу модель електричної компенсації напівпровідникових монокристалів з урахуванням довільної кількості дрібних, одно- дво- та тризарядових глибоких донорів та акцепторів, а також амфотерних домішок. Модель покладено до основи прикладної програми для розрахунку властивостей напівпровідникових матеріалів, визначених зовнішніми діями або умовами експлуатації. Одержано тривимірні залежності питомого опору й енергії глибокого донора для різного домішкового складу CdZnTe. Кількісно досліджено оптимальні діапазони концентрацій домішок для одержання напівізолювального CdZnTe. Наведено порівняльний аналіз модельних залежностей зміни питомого опору CdTe і CdZnTe для аналогічних домішкових складів, визначено переваги матеріалу телуриду кадмію з цинком. Індекс рубрикатора НБУВ: К230.63
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ
![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|