Mikhailov I. F. Determination of mass fraction of light elements in crystalline materials by the Compton-to-Rayleigh scattering intensity ratio / I. F. Mikhailov, O. V. Sobol', V. V. Varganov, L. P. Fomina // Functional Materials. - 2002. - 9, № 4. - С. 651-656. - Бібліогр.: 7 назв. - англ.Розроблено методику кількісного визначення елементів у кристалічних матеріалах за співвідношенням інтенсивностей піків комптонівського <$E I sub K> та релєївського <$E I sub R> розсіяння у структурному діапазоні довжин хвиль <$E ( lambda~>>~0,56 A back 35 up 30 {symbol Р}). Методика включає вилучення внеску бреггівського відбиття в інтенсивність кожного з піків шляхом підвищення показника <$E 2М> у факторі Дебая - Валлера до значення 4,6 і вище, або за рахунок введення поправок, які експериментально враховують цей внесок. Екпериментальні виміри <$E I sub C "/" I sub R> однокомпонентних матеріалів і бінарних сполук, добре узгоджуються з одержаною розрахунковою формулою. Проаналізовано можливості методики для визначення масової частки вуглецю в сталях і чавунах. Індекс рубрикатора НБУВ: В372.312 + К208-1 с
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ
 Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|