Вивчено еліпсометричні властивості поверхні чистої (звичайної та важкої) води, водних розчинів сахарози та води з поверхнево-активною речовиною, такою як етоній (<$E roman {C sub 30 H sub 52 O sub 4 N sub 2 Cl} sub 2>). Виміряно залежності зсуву фаз <$E DELTA~=~delta sub p~-~delta sub s> і відновленої лінійної поляризації <$E tan psi~=~| r sub p "/" r sub s |> від кута падіння світла <$E phi>. Виміри проведено поблизу кута Брюстера для води. Для порівняння одержаних результатів використано перше наближення теорії відбивання світла, запропонованої Д. В. Сивухіним. Порівняння залежностей для <$E DELTA ( phi )> та <$E tan psi ( phi )> показало, що за широкого інтервалу концентрацій поверхнево-активної речовини ці залежності практично не відрізняються. Для кожного зразка розраховано кут Брюстера (головний кут) і параметр товщини перехідного шару.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"