Плівку Ti товщиною 45 <$E roman font 14 Е> і плівки Cr товщиною 80 і 100 <$E roman font 14 Е> одержано за допомогою методу вакуумного напилення на скляні підкладки і для них виміряно кутові залежності еліпсометричних параметрів (ЕМП), а саме азимуту відновленої лінійної поляризації як з боку повітря, так і з боку скла, тобто у випадку збудження поверхневих поляритонів (ПП) за методом Кречмана за допомогою прозорого напівциліндра у разі довжини хвилі <$E lambda> = 546,1 нм. За даними, одержаними з боку повітря, обчислено оптичні сталі плівок n і k, розраховано ЕМП у випадку збудження ПП. Одержані теоретичні результати узгоджуються з експериментальними даними. Останнє свідчить про те, що формули Ейрі можна застосовувати до розрахунків як ЕМП, так і коефіцієнтів відбиття та пропускання у випадку збудження ПП.

Індекс рубрикатора НБУВ: К202.6

Рубрики:

Тонкі шари (плівки) металів і сплавів

Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ 

---

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"