Досліджено кристалічну структуру плівок фулеренів C60 у процесі їх легування молекулами кисню й атомами міді та під впливом високоенергетичного електронного опромінювання (<$E sub e> = 1,8 МеВ). Показано, що кристалічна структура плівок змінюється залежно від концентрації домішкових елементів і радіаційних дефектів, уведених у міжвузлові положення. Присутність домішок, а також радіаційних дефектів істотно впливає на електронні та коливні спектри фулеренів і є наслідком виникнення у цьому випадку додаткової кулонівської міжмолекулярної взаємодії.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"