У спектральній області 366 - 579 нм виміряно головний кут та еліптичність світлової хвилі, відбитої від поверхні монокристалічного кремнію, вкритою плівкою телуриду кадмію (ТК). Представлено комп'ютерну графічну програму обробки еліпсометричних вимірів, за допомогою якої знайдено оптичні сталі та розподіл товщини плівки по площі зразка. Одержані значення показника заломлення (ПЗ) плівки ТК є значно меншими за ПЗ монокристалічного CdTe, що пояснюється пухкою структурою плівки.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"