Mikhailov I. F. X-Ray fluorescence determination of impurity traces using a secondary emitter and a solid-state detector / I. F. Mikhailov, A. A. Baturin, L. P. Fomina // Functional Materials. - 2010. - 17, № 1. - С. 127-130. - Бібліогр.: 2 назв. - англ.Досліджено можливості визначення "слідів" домішок у легкому матеріалі методом РФА в рентгенооптичній схемі із вторинним випромінювачем. При потужності трубки 0,01 кВт забезпечується практично така ж контрастність ліній, як і у фокусуючій кристал-дифракційній схемі з потужним джерелом 1,2 кВт. Стократний виграш в контрастності у порівнянні зі стандартною схемою РФА забезпечує визначення хрому та свинцю у водних розчинах за експериментальними функціями градуювання, починаючи з 0,05 ppm, а межа виявлення домішок Ti, V, Cr та Mn в алюмінієвих сплавах знижена до <$E 0,1~symbol Ш~0,2> ppm. Компактність схеми дозволяє реєструвати лінії легких елементів без вакуумування проби. Індекс рубрикатора НБУВ: К233.108-1 с45
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|