РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000519437<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Mikhailov I. F. 
X-Ray fluorescence determination of impurity traces using a secondary emitter and a solid-state detector / I. F. Mikhailov, A. A. Baturin, L. P. Fomina // Functional Materials. - 2010. - 17, № 1. - С. 127-130. - Бібліогр.: 2 назв. - англ.

Досліджено можливості визначення "слідів" домішок у легкому матеріалі методом РФА в рентгенооптичній схемі із вторинним випромінювачем. При потужності трубки 0,01 кВт забезпечується практично така ж контрастність ліній, як і у фокусуючій кристал-дифракційній схемі з потужним джерелом 1,2 кВт. Стократний виграш в контрастності у порівнянні зі стандартною схемою РФА забезпечує визначення хрому та свинцю у водних розчинах за експериментальними функціями градуювання, починаючи з 0,05 ppm, а межа виявлення домішок Ti, V, Cr та Mn в алюмінієвих сплавах знижена до <$E 0,1~symbol Ш~0,2> ppm. Компактність схеми дозволяє реєструвати лінії легких елементів без вакуумування проби.


Індекс рубрикатора НБУВ: К233.108-1 с45

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського