РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000527433<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Кондратенко С. В. 
Фотогенерація і рекомбінація нерівноважних носіїв заряду в напівпровідникових наногетероструктурах Si1-xGex/Si та InxGa1-xAs/GaAs : автореф. дис. ... д-ра фіз.-мат. наук : 01.04.05 / С. В. Кондратенко; Київ. нац. ун-т ім. Т. Шевченка. - К., 2013. - 35 c. - укp.

Вивчено процеси фотогенерації та рекомбінації нерівноважних носіїв заряду та встановлено механізми фотопровідності у напівпровідникових гетероструктурах SiGe/Si та InGaAs/GaAs з квантово-розмірними об’єктами. Узагальнено результати досліджень морфологічних, структурних, оптичних та електричних властивостей напівпровідникових наногетероструктур Si1-xGex/Si та InxGa1-xAs/GaAs. Показано, що фотопровідність наногетероструктур SiGe/Si в інфрачервоному діапазоні в залежності від компонентного складу, розміру та величин механічних напружень наноострівців Si1-xGex визначається міжзонними або внутрішньозонними переходами за участю локалізованих станів валентної зони наноострівців. Вперше виявлено ефекти залишкової провідності та оптичного гасіння провідності в гетероструктурах SiGe/SiO2p/Si з нанокластерами SiGe пов’язані з варіаціями електростатичного потенціалу в p-Si та оптичною перезарядкою станів інтерфейсу SiO2/Si та нанокластерів SiGe. Встановлено, що додатній заряд, захоплений наноострівцями SiGe, впливає на термічно активований обмін дірками між станами змочувального шару та наноострівців і загалом визначає провідність p-i-n гетероструктур Si/Ge за низьких температур. Визначено електронний спектр інтерфейсних станів у найближчому оточенні GaAs гетероструктур InGaAs/GaAs з квантовими точками та квантовими нитками та показано, що ці стани є центрами прилипання для електронів і визначають високу фоточутливість та довготривалу кінетику фотопровідності. Вперше виявлено ефект оптичного гасіння фотопровідності в багатошарових наногетероструктурах InGaAs/GaAs зумовлений оптичною перезарядкою EL2 центрів та варіаціями ширини забороненої зони в проміжних шарах GaAs.


Індекс рубрикатора НБУВ: В379.271.4,022

Рубрики:

Шифр НБУВ: РА399390 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського