Вперше розроблено методику визначення відносних значень компонент електрооптичного (ЕО) тензора фоторефрактивного (ФР) моноклінного кристала, що базується на серії вимірів ефективності векторних взаємодій світлових променів. Визначено відношення компонент ЕО тензора кристала SPS та найбільшої компоненти r₁₁. Встановлено умови оптимізації коефіцієнта підсилення зустрічних пучків у кристалі SPS. Експериментально встановлено, що ширококутове розсіювання світла в Y-зрізі кристала SPS має неоднорідну поляризаційну структуру, ступінь неоднорідності якої істотно залежить від поляризації лазерного пучка, що його індукує. Запропоновано модель, що пояснює поляризаційну неоднорідність ширококутового розсіювання світла у ФР кристалі низької симетрії, зокрема SPS.

• Волков Олександр Юрійович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"