РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000565312<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Бурак К. О. 
Дослідження похибки зчитування відліку під час геометричного нівелювання коротким променем цифровими нівелірами / К. О. Бурак, М. Я. Гринішак // Геодезія, картографія і аерофотознімання : Укр. міжвід. наук.-техн. зб.. - 2014. - Вип. 80. - С. 30-39. - Бібліогр.: 11 назв. - укp.

Зазначено, що одним із сучасних методів спостереження за осіданнями унікальних споруд (фундаментів АЕС, висотних гребель ГЕС, прискорювачів заряджених частинок, радіотелескопів) є високоточне геометричне нівелювання коротким променем цифровим нівеліром. Основою для розробки методики нівелювання є СКП (середня квадратична похибка) відліку. Під час роботи з цифровим нівеліром, на відміну від оптичного, є можливість без суттєвого збільшення трудомісткості вимірювань (практично та часу) визначати відлік на рейку як середнє арифметичне з n-зчитувань рейки. Досліджено залежність величини mвідл (середньої квадратичної величини з n зчитувань) від довжини візирного променя D (в діапазоні від 5 до 30 м), кількості зчитувань відліків n та освітленості рейки E з метою як встановлення математичної залежності для підрахунку mвідл, так і визначення оптимальної величини n. Дослідження полягало у вимірюванні електронним нівеліром еталонних перевищень, які відомі з точністю, що на порядок є вищою від тієї, яку забезпечує цифровий нівелір. Еталонні перевищення задавалися попередньо перевіреним підйомним механізмом, що використовувався для зміни висоти рейки відносно візирного променя нівеліра та забезпечував точність встановлення зміни висоти рейки m = <$Esymbol С~0,003> мм. Похибки за нахил рейки у результатах немає. За результатами експериментальних вимірювань встановлено, що освітленість у діапазоні від 80 до 360 лк (люксів) не впливає на точність автоматичного зчитування відліків. Водночас існує чітка лінійна залежність mвідл від D і n, яка для високоточного нівеліра TOPCON DL-501 апроксимується рівнянням mвідл (мм) = 0,0014 D(м) - 0,001n + 0,042, а для точного електронного нівеліра Sprinter 150M - рівнянням mвідл (мм) = 0,004 D(м) - 0,007n + 0,042 . Аналіз показує, що mвідл для точного нівеліра, на відміну від високоточного, більшою мірою залежить від кількості зчитувань рейки. Одержані залежності дають змогу розробляти оптимальні методики виконання геометричного нівелювання та їх можна використати під час розроблення нормативних документів.


Індекс рубрикатора НБУВ: Д115.4

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж29144 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Повний текст  Наукова періодика України 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського