Опанасюк А. С. Аналіз елементного складу плівок Cu2ZnSnSe4 методами PIXE та mu-PIXE / А. С. Опанасюк, П. В. Коваль, Д. В. Магілін, А. А. Пономарев, Х. Чеонг // Журн. нано- та електрон. фізики. - 2014. - 6, № 2. - С. 02019(4). - Бібліогр.: 16 назв. - укp.За методом рентгенівського характеристичного випромінювання індукованого сфокусованим протонним пучком проведено дослідження розподілу компонентів сполуки за площею плівок Cu2ZnSnSe4 (<$Emu>-PIXE), а також визначено їх елементний склад (PIXE). Для реалізації методу використано ядерний скануючий мікрозонд з енергією пучка протонів 1,5 MеВ і поперечним розміром зонда <$E4~times~4> мкм<^>2. Плівки чотирьохкомпонентної сполуки одержано за різних фізико-технологічних режимів осадження співвипаровуванням компонентів з використанням електронно-променевої гармати. Як підкладки використано скло з підшаром молібдену, нагріте до температури <$E400~symbol Р roman C>. У результаті досліджень встановлено, що розподіл елементів по площі конденсатів є однорідним, а їх склад визначається фізико-технологічними умовами одержання. Індекс рубрикатора НБУВ: К663.030.022
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж100357 Пошук видання у каталогах НБУВ
Повний текст Наукова періодика України Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|