Рассмотрены вопросы измерения плоскостности корпусов взрыво-защитной аппаратуры габаритами до 1000 мм. Контроль основан на промышленной фоторегистрации, которая контролирует плоскостность поверхности в несколько раз быстрее лазерных дальномеров и в десятки раз быстрее координатно-измерительных машин. Разработан специальный алгоритм расчета плоскостности фланцев по отклонению границы яркостного перехода. Отклонение определяется между реальной фотографией и идеальным вариантом, рассчитанным с помощью моделирования отражения света от абсолютно ровной поверхности, имеющей конечную шероховатость. Предложена конструкция щелевого осветителя, позволяющая, в частности, проводить сканирование начальной линии.

• Медведєв Віталій Володимирович (1939–) (біологічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"