Використовуючи метод ЯКР, досліджено залежність інтенсивності спектра від орієнтації кристалографічних осей анізотропного кристала щодо вектора магнітної компоненти високочастотного поля. Наявність залишкової інтенсивності резонансного спектру за H₁||c свідчить про присутність в монокристалі дефектів і блоків з малими кутовими границями або іншими порушеннями в атомних шарах. Відпал кристалу за температури 550^o C супроводжується покращанням якості резонансних спектрів ЯКР та дифракційних максимумів на топограмах.

 Наукова періодика України 

---

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

• Хандожко Віктор Олександрович (технічні науки)
• Раранський Микола Дмитрович (технічні науки)
• Ковалюк Захар Дмитрович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"